SN74ABTH18652APM Datenblatt
Technische Daten für SN74ABTH18652APM
Artikelnummer : SN74ABTH18652APM
Hersteller : Texas Instruments
Beschreibung : IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Serie : 74ABTH
Teilestatus : Active
Logiktyp : Scan Test Device With Transceivers And Registers
Versorgungsspannung : 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits : 18
Betriebstemperatur : -40°C ~ 85°C
Befestigungsart : Surface Mount
Paket / fall : 64-LQFP
Supplier Device Package : 64-LQFP (10x10)
Gewicht : -
Bedingung : Neu und originell
Qualitätsgarantie : 365 Tage Garantie
Lagerressource : Franchise-Händler / Hersteller direkt
Herkunftsland : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Hersteller Teilenummer
Interne Teilenummer
Hersteller
Kurze Beschreibung
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Lieferzeit
1-2 Tage
verfügbare Anzahl
40565 Stücke
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