Technische Daten für SN74BCT8374ADWRG4

Artikelnummer : SN74BCT8374ADWRG4
Hersteller : Texas Instruments
Beschreibung : IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
Serie : 74BCT
Teilestatus : Obsolete
Logiktyp : Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Versorgungsspannung : 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits : 8
Betriebstemperatur : 0°C ~ 70°C
Befestigungsart : Surface Mount
Paket / fall : 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Supplier Device Package : 24-SOIC
Gewicht : -
Bedingung : Neu und originell
Qualitätsgarantie : 365 Tage Garantie
Lagerressource : Franchise-Händler / Hersteller direkt
Herkunftsland : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Hersteller Teilenummer
Interne Teilenummer
Hersteller
Kurze Beschreibung
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
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1-2 Tage
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USD 0
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