SN74BCT8374ANT Datenblatt
Technische Daten für SN74BCT8374ANT
Artikelnummer : SN74BCT8374ANT
Hersteller : Texas Instruments
Beschreibung : IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Serie : 74BCT
Teilestatus : Obsolete
Logiktyp : Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Versorgungsspannung : 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits : 8
Betriebstemperatur : 0°C ~ 70°C
Befestigungsart : Through Hole
Paket / fall : 24-DIP (0.300", 7.62mm)
Supplier Device Package : 24-PDIP
Gewicht : -
Bedingung : Neu und originell
Qualitätsgarantie : 365 Tage Garantie
Lagerressource : Franchise-Händler / Hersteller direkt
Herkunftsland : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Hersteller Teilenummer
Interne Teilenummer
Hersteller
Kurze Beschreibung
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Lieferzeit
1-2 Tage
verfügbare Anzahl
39174 Stücke
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