SN74BCT8245ADW - IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
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Interne Teilenummer
Hersteller
Kurze Beschreibung
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Lieferzeit
1-2 Tage
verfügbare Anzahl
51990 Pieces
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Technische Daten für SN74BCT8245ADW
Qualitätsgarantie :
365 Tage Garantie
Lagerressource :
Franchise-Händler / Hersteller direkt
Herkunftsland :
USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Artikelnummer :
SN74BCT8245ADW
Hersteller :
Texas Instruments
Beschreibung :
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
Serie :
74BCT
Teilestatus :
Active
Logiktyp :
Scan Test Device with Bus Transceivers
Versorgungsspannung :
4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits :
8
Betriebstemperatur :
0°C ~ 70°C
Befestigungsart :
Surface Mount
Paket / fall :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Supplier Device Package :
24-SOIC
Gewicht :
-
Bedingung :
Neu und originell
Dokumente für SN74BCT8245ADW
Datenblätter :
SN74BCT8245ADW.pdf
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