SN74ABT8543DWRG4 - IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

Hersteller Teilenummer

SN74ABT8543DWRG4

Interne Teilenummer

AX-SN74ABT8543DWRG4

Hersteller

Texas Instruments

Kurze Beschreibung

IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

RoHS-Status

Bleifrei / RoHS-konform

Lieferzeit

1-2 Tage

verfügbare Anzahl

46404 Pieces

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Technische Daten für SN74ABT8543DWRG4

Qualitätsgarantie : 365 Tage Garantie

Lagerressource : Franchise-Händler / Hersteller direkt

Herkunftsland : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

Artikelnummer : SN74ABT8543DWRG4

Hersteller : Texas Instruments

Beschreibung : IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

Serie : 74ABT

Teilestatus : Obsolete

Logiktyp : Scan Test Device with Registered Bus Transceiver

Versorgungsspannung : 4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits : 8

Betriebstemperatur : -40°C ~ 85°C

Befestigungsart : Surface Mount

Paket / fall : 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

Supplier Device Package : 28-SOIC

Gewicht : -

Bedingung : Neu und originell

ähnliche Links : SN74A , SN74ABT8

Dokumente für SN74ABT8543DWRG4

Datenblätter : SN74ABT8543DWRG4.pdf

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