SN74BCT8373ANT - IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
Hersteller Teilenummer
Interne Teilenummer
Hersteller
Kurze Beschreibung
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Lieferzeit
1-2 Tage
verfügbare Anzahl
16000 Pieces
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Technische Daten für SN74BCT8373ANT
Qualitätsgarantie :
365 Tage Garantie
Lagerressource :
Franchise-Händler / Hersteller direkt
Herkunftsland :
USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Artikelnummer :
SN74BCT8373ANT
Hersteller :
Texas Instruments
Beschreibung :
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
Serie :
74BCT
Teilestatus :
Obsolete
Logiktyp :
Scan Test Device with D-Type Latches
Versorgungsspannung :
4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits :
8
Betriebstemperatur :
0°C ~ 70°C
Befestigungsart :
Through Hole
Paket / fall :
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Supplier Device Package :
24-PDIP
Gewicht :
-
Bedingung :
Neu und originell
Dokumente für SN74BCT8373ANT
Datenblätter :
SN74BCT8373ANT.pdf
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