8V18502AIPMREP - IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
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Kurze Beschreibung
IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
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Technische Daten für 8V18502AIPMREP
Qualitätsgarantie :
365 Tage Garantie
Lagerressource :
Franchise-Händler / Hersteller direkt
Herkunftsland :
USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Artikelnummer :
8V18502AIPMREP
Hersteller :
Texas Instruments
Beschreibung :
IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
Serie :
SCOPE™, Widebus™
Teilestatus :
Obsolete
Anwendungen :
Circuit Board Testing
Schnittstelle :
4-Wire Test Access Port (TAP)
Spannungsversorgung :
2.7V ~ 3.6V
Paket / fall :
64-LQFP
Supplier Device Package :
64-LQFP (10x10)
Befestigungsart :
Surface Mount
Gewicht :
-
Bedingung :
Neu und originell
Dokumente für 8V18502AIPMREP
Datenblätter :
8V18502AIPMREP.pdf
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