SN74ABT8543DWRE4 - IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
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Kurze Beschreibung
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
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Bleifrei / RoHS-konform
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Technische Daten für SN74ABT8543DWRE4
Qualitätsgarantie : 365 Tage Garantie
Lagerressource : Franchise-Händler / Hersteller direkt
Herkunftsland : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Artikelnummer : SN74ABT8543DWRE4
Hersteller : Texas Instruments
Beschreibung : IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
Serie : 74ABT
Teilestatus : Obsolete
Logiktyp : Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Versorgungsspannung : 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits : 8
Betriebstemperatur : -40°C ~ 85°C
Befestigungsart : Surface Mount
Paket / fall : 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Supplier Device Package : 28-SOIC
Gewicht : -
Bedingung : Neu und originell
Dokumente für SN74ABT8543DWRE4
Datenblätter : SN74ABT8543DWRE4.pdf
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