SN74LVTH18504APMG4 - IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Hersteller Teilenummer
Interne Teilenummer
Hersteller
Kurze Beschreibung
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
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1-2 Tage
verfügbare Anzahl
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Technische Daten für SN74LVTH18504APMG4
Qualitätsgarantie : 365 Tage Garantie
Lagerressource : Franchise-Händler / Hersteller direkt
Herkunftsland : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Artikelnummer : SN74LVTH18504APMG4
Hersteller : Texas Instruments
Beschreibung : IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Serie : 74LVTH
Teilestatus : Active
Logiktyp : ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Versorgungsspannung : 2.7V ~ 3.6V
Anzahl der Bits : 20
Betriebstemperatur : -40°C ~ 85°C
Befestigungsart : Surface Mount
Paket / fall : 64-LQFP
Supplier Device Package : 64-LQFP (10x10)
Gewicht : -
Bedingung : Neu und originell
Dokumente für SN74LVTH18504APMG4
Datenblätter : SN74LVTH18504APMG4.pdf
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